掃描電鏡并非通過直接觀測來獲得樣品信息，而是通過發(fā)射電子束對樣品進(jìn)行激發(fā)，并利用背散射或二次電子探測器對被觀測物體的成分和形貌進(jìn)行分析。要獲得準(zhǔn)確的結(jié)果，測試樣品B須符合一定的要求。以下是SEM掃描電鏡對測試樣品的要求：

1. 形貌形態(tài)，要耐高真空

掃描電鏡是靠電子束掃描物體表面來成像的?？諝獾拇嬖跁沟碾娮邮冃停绊憭呙栊Ч?，所以被測樣品比較能耐高真空。

2．樣品表面不能含有有機(jī)油脂類污染物

油污在電子束作用下容易分解成碳?xì)浠?，對真空環(huán)境造成很大污染。樣品表面細(xì)節(jié)被碳?xì)浠衔镎谏w；碳?xì)浠衔锝档土顺上裥盘柈a(chǎn)量；碳?xì)浠衔镂皆陔娮邮饴芬鸷艽笙笊?；碳?xì)浠衔锉晃皆谔綔y器晶體表面，降低探測器效率。對低加速電壓的電子束干擾嚴(yán)重。

3．樣品要是干燥的

水蒸氣會加速電子槍陰極材料的揮發(fā)，從而很大降低燈絲壽命；水蒸氣會散射電子束，增加電子束能量分散，從而增加大的色差，降低分辨能力。

4．樣品表面可以導(dǎo)電

樣品表面要可以導(dǎo)電，如果不能導(dǎo)電，則要鍍金以增加導(dǎo)電性。在大多數(shù)情況下，初級電子束電荷數(shù)量都大于背散射電子和二次電子數(shù)量之和，因此多余的電子要導(dǎo)入地下，即樣品表面電位要保持在0電位。如果樣品表面不導(dǎo)電，或者樣品接地線斷裂，那么樣品表面靜電荷存在，使得表面負(fù)電勢不斷增加，出現(xiàn)充電效應(yīng)，使圖像畸變，入射電子束減速，此時樣品如同一個電子平面鏡。對不導(dǎo)電的樣品，建議采用離子濺射鍍膜機(jī)噴鍍金屬，這樣可以顯著提高掃描電子顯微鏡所觀察圖像的質(zhì)量。

5．特殊樣品制備的考慮因素

SEM掃描電鏡一般不建議觀測磁性材料，如果一定要觀測此類物質(zhì)，則建議對材料首先進(jìn)行退磁。如果要檢測觀察弱反差機(jī)理，就要消除強(qiáng)反差機(jī)理（例如，形貌反差），否則很難檢測到弱的反差。當(dāng)希望背散射電子衍射反差（EBSD），I和II型磁反差或其他弱反差機(jī)理時，磁性材料的磁疇特性必需消除樣品的形貌。采用化學(xué)拋光，電解拋光等，以使樣品產(chǎn)生一個幾乎消除形貌的鏡面。

在測試前，B須確保樣品符合上述要求，以獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。