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你知道SEM掃描電鏡的測量結(jié)果受哪些因素影響嗎？
日期：2023-02-22 09:12:29 瀏覽次數(shù)：172
掃描電鏡具有很高的分辨率和放大倍數(shù)，可提供非常詳細的表面形貌信息，已廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學、納米科技等諸多領域。
SEM掃描電鏡測量結(jié)果可能受到掃描電鏡本身分辨率和測量設備的誤差、樣品制備和處理的影響、樣品表面電荷和形貌等因素的影響。并且，SEM掃描電鏡測量需要對樣品進行處理和準備，這可能會導致樣品結(jié)構(gòu)和形態(tài)的變化，進而影響測量結(jié)果的準確性。
所以在使用掃描電鏡進行測量時，需要注意樣品制備和處理的質(zhì)量問題，選擇更符合的SEM掃描電鏡參數(shù)，進行多次測量和比對結(jié)果等，以提高測量的準確性和可靠性。
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